Аннотация:
Предложен эффективный метод расчета энергетического
спектра носителей заряда в тонких и \hbox{$\delta$-ле}гированных
слоях полупроводников. Проведен численный расчет для $\delta$-слоев
GaAs $n$-типа, который сравнивается с расчетами других
авторов и с некоторыми экспериментальными данными.
Показано, что форма потенциальной ямы вблизи $\delta$-слоя,
полученная в приближении Томаса–Ферми,
слабо отличается от найденной самосогласованным
расчетом. Изучено влияние на спектр носителей заряда
граничного электрического поля, вызванного
закреплением уровня Ферми на поверхности GaAs.