Аннотация:
Метод комбинационного рассеяния света (КРС) использован
для определения скорости поверхностной рекомбинации ($S$) на образцах
InP, обработанных химическими травителями, применяемыми при
формировании приборных структур. Скорость поверхностной рекомбинации
оценивалась из анализа зависимости концентраций фотовозбужденных носителей
($n$) от плотности мощности возбуждения, $n$
вычислялась по величине плазмон-фононнои частоты $w^{+}$. Полученные из спектров КРС значения $S$ сопоставлялись с оценками
скорости поверхностной рекомбинации методом, основанным на регистрации
изменения поверхностной составляющей тока утечки $p{-}n$-перехода
в InP после обработки его периферии в тех же травителях. Наблюдалась
хорошая корреляция между этими данными. Отмечаются преимущества
использования метода КРС для определения $S$. На основе проведенных исследований установлены травители,
использование которых при формировании
приборных структур на InP более предпочтительно.