Аннотация:
Предложен механизм управления транзистором через
полуизолирующую подложку. В его основе лежит гипотеза об изменении типа
проводимости компенсированного полупроводника под действием электрического
поля на генерацию дырок и электронов с глубокого уровня в результате эффекта
Френкеля$-$Пулла. С единых позиций объяснены основные эксперименты
паразитного управления транзистором через полуизолирующую подложку: пороговые
и беспороговые характеристики управления, связь эффекта управления с
суперлинейным ростом тока в подложке, природа низкочастотной
неустойчивости. Показано, что эффект управления в ИС на GaAs определяется
главным образом степенью компенсации подложки.