RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1990, том 24, выпуск 11, страницы 2056–2057 (Mi phts4093)

Краткие сообщения

Изменение энергии ионизации радиационного дефекта с уровнем $E_{c}{-}0.2$ эВ в $n$-Si при одноосной деформации

А. К. Семенюк, П. Ф. Назарчук




© МИАН, 2026