Аннотация:
Найдено распределение потенциала в слое Шоттки,
окружающем стенку из заряженных краевых дислокаций в полупроводнике.
Нелинейная задача экранирования сведена к нахождению формы границы
слоя. Получены точные решения, описывающие форму границы и распределение
потенциала. Рассчитаны зависимости высоты потенциального барьера для
протекания тока сквозь границу и заряда дислокаций от
периода стенки и концентрации примесей.