RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1990, том 24, выпуск 5, страницы 902–907 (Mi phts3848)

Шоттковское экранирование заряженной дислокационной стенки в полупроводнике

А. В. Ефанов


Аннотация: Найдено распределение потенциала в слое Шоттки, окружающем стенку из заряженных краевых дислокаций в полупроводнике. Нелинейная задача экранирования сведена к нахождению формы границы слоя. Получены точные решения, описывающие форму границы и распределение потенциала. Рассчитаны зависимости высоты потенциального барьера для протекания тока сквозь границу и заряда дислокаций от периода стенки и концентрации примесей.



© МИАН, 2026