Аннотация:
Для проверки возможности существования немонотонной
координатной зависимости потенциала области пространственного
заряда в структурах Ni$-$SiO$_{2}{-}$Si производились
исследования высоты потенциального барьера при включении
инфракрасной подсветки, осуществляющей монополярную генерацию
неравновесных электронов. Обнаружен эффект возрастания высоты
потенциального барьера в структурах с толщиной диэлектрического
слоя меньше 20 Å, что свидетельствует в пользу физической
модели контакта металл$-$полупроводник, учитывающей немонотонный
профиль потенциала, обусловленный провисанием заряда,
локализованного на поверхностных состояниях, в глубь
полупроводника. Рассмотрены конкурирующие механизмы
изменения высоты потенциального барьера под воздействием
инфракрасной подсветка.