Аннотация:
Методами МКЛ, ФЛ, $C{-}V$ и СГУ изучены свойства приповерхностных
слоев монокристаллических пластин GaAs, легированных Sn, Те, Zn, после
термообработки в протоке H$_{2}$ и при контролируемом давлении паров мышьяка.
Установлено, что увеличение концентрации $V_{\text{As}}$ вблизи поверхности
в образцах $n$-типа приводит к образованию новых центров излучательной
рекомбинации и появлению дополнительных акцепторных центров. Обнаружены
существенные изменения люминесцентных характеристик и спектра глубоких уровней,
обусловленные перераспределением $V_{\text{Ga}}$. Обсуждается
механизм обнаруженных явлений.