Физика и техника полупроводников,
1989, том 23, выпуск 12,страницы 2129–2132(Mi phts3642)
О природе радиационных дефектов в $n$-кремнии, облученном электронами
с энергией вблизи порога дефектообразования
Л. С. Берман, В. А. Жепко, В. Н. Ломасов, В. Н. Ткаченко
Аннотация:
Исследованы радиационные дефекты (РД), образующиеся в $n$-базе
кремниевых диодов, облученных электронами с энергией 270 и 300 кэВ.
Методом DLTS обнаружены следующие комплексы: вакансия–кислород ($A$-центр),
кислород–углерод–вакансия ($K$-центр) и межузельный–узельный углерод.
Эти РД и РД, образующиеся при облучении кремния
электронами с энергией порядка 1 мэВ, идентичны.