Аннотация:
В диапазоне температур ${80\div350}$ K
измерены спектры оптического
пропускания однородных специально не легированных монокристаллов
AgGaTe$_{2}$, выращенных направленной кристаллизацией расплава
с составом, близким к стехиометрическому составу соединения. При 300 K
концентрация дырок составляет ${(1\div5)\cdot10^{13}\,\text{см}^{-3}}$,
а их подвижность — ${5\div8\,\text{см}^{2}/\text{В}\cdot\text{с}}$.
Анализ спектров краевого поглощения в естественном излучении показывает,
что AgGaTe$_{2}$ является прямозонным полупроводником с шириной
запрещенной зоны ${E_{g}=1.32}$ эВ (300 K), в интервале
${80\div350}$ K $E_{g}$ падает по линейному закону с температурным
коэффициентом ${dE_{g}/dT\simeq-3.6\cdot10^{-4}\,\text{эВ/K}}$.
Обнаружена фоточувствительность AgGaTe$_{2}$ в диапазоне
${0.6\div3}$ эВ. Анализ спектров фоточувствительности подтверждает
выводы абсорбционных измерений. На полученных кристаллах также созданы
фоточувствительные структуры: диоды Шоттки и электрохимические ячейки.
Исследования полного и фотоактивного поглощения в линейно поляризованном
свете позволили обнаружить линейный дихроизм и фотоплеохроизм, которые
отвечают симметрии решетки халькопирита. Полученные результаты указывают на
возможности применения монокристаллов AgGaTe$_{2}$ в поляризационной
фотоэлектронике.