Физика и техника полупроводников,
1986, том 20, выпуск 8,страницы 1469–1475(Mi phts335)
Электропроводность и структура слоев аморфного кремния
А. А. Андреев, Т. А. Сидорова, Е. А. Казакова, М. С. Аблова, А. Я. Виноградов
Аннотация:
Исследованы температурная зависимость электропроводности
и край оптического поглощения слоев аморфного кремния, обладающих
различной микроструктурой: нормально и наклонно осажденного аморфного
кремния и аморфного гидрированного кремния. Три типа исследованных материалов
демонстрируют общую последовательность смены активационных механизмов
проводимости с энергиями активации 0.2, 0.4, 0.7 и 0.9 эВ, обусловленную
участием единых в своей природе типов дефектов аморфной структуры. Такими
дефектами являются изолированные ненасыщенные связи в объеме
аморфной сетки и реконструированные ненасыщенные связи кремния на поверхности
пор, глобул или столбов, формирующих микроструктуру. Энергия активации
электропроводности 0.9 эВ соответствует собственной
проводимости непрерывной тетраэдрической сетки аморфного кремния.