RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1989, том 23, выпуск 3, страницы 517–520 (Mi phts3276)

Влияние амплитудной решетки на дифракционную эффективность динамических голограмм в кремнии

Р. Балтрамеюнас, Д. Велецкас


Аннотация: Исследовано влияние амплитудной решетки на дифракционную эффективность голограммы в нелинейно поглощающих средах. Показано, что амплитудная решетка в кристалле кремния, действуя наряду с фазовой, уменьшает дифракционную эффективность голограммы и влияет на точность определения параметров возбужденной среды методом динамических голографических решеток.



© МИАН, 2026