Аннотация:
Рассмотрена кинетическая модель умножения
фотовозбужденных носителей заряда при ударной ионизации
примесных атомов в полупроводнике в сильном электрическом доле.
Показано, что эффект умножения фотовозбужденных носителей обусловлен
увеличением времени жизни этих носителей вследствие
компенсации темпов рекомбинации и ударной ионизации. Максимальное
умножение имеет место при пробивной напряженности поля, т. е.
при наступлении электрического пробоя. Коэффициент умножения при
пробивном ноле возрастает вместе с концентрацией компенсирующей примеси
и уменьшается с увеличением концентрации основной
примеси, температуры и интенсивности оптической ионизации.