Физика и техника полупроводников,
1989, том 23, выпуск 2,страницы 328–331(Mi phts3239)
Исследование методом аннигиляции позитронов дефектов в монокристаллах
кремния, облученных ионами ксенона
А. И. Гирка, Е. Б. Клопиков, В. А. Скуратов, А. В. Шишкин
Аннотация:
Приведены результаты измерения времени
жизни позитронов в монокристаллах кремния, облученных
ионами ксенона с энергией ${\sim1}$ МэВ/нуклон (диапазон флюенсов
${7\cdot10^{10}{-}6\cdot10^{13}\,\text{см}^{-2}}$). Экспериментально
показано, что основным типом дефектов, захватывающих позитроны,
вероятно, являются дивакансии, время
жизни позитронов в которых (${320\pm15}$) пс. Отжиг дивакансии имеет
место при ${T\gtrsim450^{\circ}}$С с энергией
активации миграции ${E_{\text{а}}^{\text{м}}=(1.0\pm0.2}$) эВ.
Обнаружено, что в пределах поврежденного слоя толщиной ${\sim16}$ мкм
распределение дивакансии, концентрация которых
${\sim10^{19}\,\text{см}^{-3}}$,
по глубине равномерное.