Аннотация:
Исследована деформация поверхности полупроводника при его облучении
сфокусированным светом с модулированной интенсивностью. Деформация обусловлена
выделением тепла при поглощении света, а также действием генерированных светом
электронов и дырок на решетку через деформационный потенциал. Найдены условия,
при которых механизм деформационного потенциала оказывается преобладающим. При
низких частотах модуляции области действия теплового и электронного механизмов
деформации разделены в пространстве. В этом случае в полупроводниках с
отрицательной константой деформационного потенциала (например, в Si) возникают
немонотонные профили распределения амплитуды смещения поверхности вдоль радиуса
от центра луча.