Аннотация:
Исследованы закономерности поведения центров EL2
в монокристаллах полуизолирующего GaAs, выращенных с разным
отклонением от стехиометрического состава при термообработке в режимах,
близких к постимплантационному отжигу. Обнаружено существенное
влияние отклонения от стехиометрии и легирования индием на однородность
распределения центров EL2 в объеме монокристаллов и их термостабильность.
Выявлены закономерные изменения концентрации
центров EL2 и повышение однородности их распределения в результате
термообработки. Обсуждается природа наблюдаемых явлений.