RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1988, том 22, выпуск 9, страницы 1692–1695 (Mi phts3052)

Краткие сообщения

Влияние термического отжига на свойства барьеров Шоттки Cr-SiC $n$- и $p$-типа электропроводности

Р. Г. Веренчикова, В. И. Санкин




© МИАН, 2026