Аннотация:
С целью количественной проверки теории люминесценции
сильно легированных компенсированных полупроводников выполнены
экспериментальные исследования спектров фотолюминесценции
$p{-}n$-структур GaAs$\langle\text{Si}\rangle$ при контролируемых
температуре (${64\div300}$ K), уровне возбуждения
(${10^{17}\div10^{20}\,\text{фот/см}^{2}\cdot\text{с}}$),
степени компенсации (${0\div1}$) и уровне легирования
[${(1\div7)\cdot10^{18}\,\text{см}^{-3}}$], а также расчеты
спектров излучения. Показано соответствие теории эксперименту.
Установлено, что в сильно компенсированном материале излучение связано
с переходами $TT$- и $BT$-типа, причем вклад последних
увеличивается с ростом температуры, уровня возбуждения
и обусловлен распределением дырок в хвосте валентной зоны.