RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Физика и техника полупроводников
// Архив
Физика и техника полупроводников,
1988
, том 22,
выпуск 6,
страницы
1149–1151
(Mi phts2930)
Краткие сообщения
Влияние примеси олова на накопление радиационных дефектов в
$n$
-Si
Ю. М. Добровинский
, М. Г. Соснин
, В. М. Цмоць
,
В. И. Шаховцов
, В. Л. Шиндич
Полный текст:
PDF файл (342 kB)
©
МИАН
, 2026