Физика и техника полупроводников,
1988, том 22, выпуск 2,страницы 276–281(Mi phts2718)
Формирование активационного барьера на контакте металл–аморфный
полупроводник
В. И. Архипов, В. М. Логин, А. И. Руденко, А. А. Симашкевич, С. Д. Шутов
Аннотация:
Приведены результаты теоретического и экспериментального
исследовании процессов формирования потенциального барьера в приэлектродной
области аморфного полупроводника. Показано, что возникновение барьера вблизи
контакта металл–аморфный полупроводник, а также свойства этого барьера
обусловлены широким энергетическим спектром локализованных состояний
$g(\mathcal{E})$, характерным для неупорядоченных полупроводников. Проводится
также сравнение полученных теоретических результатов с экспериментальными
данными по частотной, температурной и полевой зависимостям барьерной емкости.
Результаты проведенных исследований позволяют сделать вывод об
активационном характере барьеров
в структурах металл–аморфный полупроводник.