RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Физика и техника полупроводников
// Архив
Физика и техника полупроводников,
1983
, том 17,
выпуск 10,
страницы
1896–1898
(Mi phts2567)
Краткие сообщения
Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии
В. Ф. Банная
, Л. И. Веселова
,
Е. М. Гершензон
Полный текст:
PDF файл (437 kB)
©
МИАН
, 2026