RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1983, том 17, выпуск 10, страницы 1896–1898 (Mi phts2567)

Краткие сообщения

Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии

В. Ф. Банная, Л. И. Веселова, Е. М. Гершензон




© МИАН, 2026