RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1983, том 17, выпуск 8, страницы 1535–1537 (Mi phts2470)

Краткие сообщения

Исследование радиационных дефектов в германии методом емкостной спектроскопии

А. И. Ашин, Л. С. Смирнов, В. Ф. Стась




© МИАН, 2026