Аннотация:
Исследована зависимость интенсивности фотолюминесценции
ДГ-InGaAsP/GaAs-структур от толщины In$_{0.5}$Ga$_{0.5}$P-эмиттера
($d_{1}$), в котором генерируются неравновесные носители заряда (ННЗ).
Определены рекомбинационные параметры материала эмиттера и установлено, что
при ${d_{1}\simeq L}$ интенсивность люминесценции активной области, возникающей
вследствие диффузии ННЗ, вдвое превосходит интенсивность излучения эмиттера.
Сопоставление с расчетом показывает, что фотонный механизм возбуждения ННЗ
в данном случае может дать значительный вклад в интенсивность
люминесценции активной области только при
${d_{1}> 4L}$.