Аннотация:
Рассматривается фотоакустический эффект (ФАЭ) в полупроводнике
конечной толщины с учетом поверхностной рекомбинации и теплоотвода на
тыловой границе. В случае поверхностной генерации получено общее выражение
для температуры на поверхности полупроводник–газ. Численно рассчитаны
частотные зависимости амплитуды и фазы ФАЭ для типичного набора параметров.
На основании элементарной физической картины получены простые аналитические
выражения для амплитуды ФАЭ, количественно совпадающие с особенностями
графиков. Показано, что ФАЭ позволяет определить ряд электронных, тепловых
и геометрических характеристик образцов.