Аннотация:
Показано, что для эпитаксиальных слоев
$n$-GaAs [${N_{D}\sim10^{17}\,\text{см}^{-3}}$, ориентация (111) В],
выращивание которых осуществлялось из галлиевого расплава вплоть до комнатной
температуры, а поверхность не подвергалась химической обработке, характерны
весьма низкие значения скорости поверхностной рекомбинации
(${S\sim10^{4}}$ см/с). Значения $S$ рассчитывались на основании сравнения
интенсивностей фотолюминесценции образцов $n$-GaAs с открытой
поверхностью и поверхностью, защищенной слоем Al$_{x}$Ga$_{1-x}$As
(${x\sim0.85}$).