Аннотация:
Описаны результаты исследования влияния облучения
$\gamma$-квантами $^{60}$Со на свойства $n$-Si$\langle$Mn$\rangle$
с помощью емкостной спектроскопии (DLTS). Из измерений дозовых зависимостей концентрации глубоких уровней (ГУ) в
$n$-Si$\langle$Mn$\rangle$
получено, что изменения $N_{\text{г}}$ в исследованном интервале доз облучения носят
немонотонный характер и зависят от начальной концентрации ГУ. Обнаружено,
что $\gamma$-облучение вводит новый уровень, связанный с радиационными
дефектами (${E_{c}-0.17}$ эВ–$A$-центр). Показано, что введение марганца
в кремний приводит к замедлению процесса радиационного дефектообразования:
скорость введения $A$-центра в $n$-Si$\langle$Mn$\rangle$ значительно
меньше, чем в контрольных образцах.