Аннотация:
Дан обзор современного состояния проблемы лазерного
отжига (ЛО) полупроводников, явившегося началом нового научно-технического
направления — импульсной модификации свойств материалов. Рассмотрены
основные физические явления, происходящие при ЛО: отражение и поглощение
света при воздействии на полупроводник мощными импульсами лазерного излучения,
передача энергии от возбужденной электронной подсистемы решетке, восстановление
разупорядоченной кристаллической структуры, отжиг точечных дефектов,
электрическая активация имплантированной примеси и перераспределение ее
в процессе отжига. Критически проанализированы результаты экспериментов
по изучению механизмов ЛО и обсуждаются две основные модели: тепловая и
плазменная. На примере имплантированных слоев кремния продемонстрированы
главные особенности ЛО: высокое совершенство восстановленной кристаллической
структуры, повышенная эффективность легирования, возможность получения
метастабильных пересыщенных систем. В заключение сформулированы некоторые
первоочередные задачи в области физики импульсного отжига полупроводников.