Аннотация:
В интервале ${1.2\div300}$ K измерены температурная
зависимость удельного сопротивления $\rho(T)$ и магнитосопротивление (МС)
пленок Ge$_{1-x}$Cu$_{x}$ (${x=1\div20}$ ат%), толщины слоев
${0.4\div1.8}$ мкм. Образцы готовились методом термического напыления
из взвешенного состояния на подложки, находящиеся при температуре
300$^{\circ}$С. Анализ структуры показал, что при ${x< 0.1}$
пленки аморфные, а при ${x>0.1}$ поликристаллические. Показано, что:
1) при ${T< 25}$ K ${\rho(T)=\rho_{0}\exp(T_{1}/T)^{n}}$,
где ${n\approx0.43\div0.65}$; 2) величина отрицательного МС
на диэлектрической стороне перехода уменьшается по мере уменьшения
$T_{1}$, т. е. при приближении к ПМД. Обсуждается механизм
температурной зависимости проводимости.
УДК:
621.315.592
Поступила в редакцию: 20.06.1985 Принята в печать: 07.10.1985