Спектроскопия конденсированного состояния

Диэлектрические измерения нанокристаллических пленок VO$_2$ : Fe

А. В. Ильинский^a, Р. А. Кастро^b, В. А. Климов^a, А. А. Кононов^b, Е. Б. Шадрин<sup>a

a</sup> Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт Петербург, Россия
^b Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, 191186 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Методами диэлектрической спектроскопии в полупроводниковой фазе пленок VO$_2$ : Fe обнаружено существование двух типов релаксационных процессов. Характерные времена релаксации обозначены $\tau_1$ и $\tau_2$. Показано, что температурные зависимости $\tau_1$ и $\tau_2$ имеют гистерезис, положение петель которого совпадает с областью фазового перехода полупроводник-металл в пленках VO$_2$ : Fe. $\tau_1$ соответствует нелегированным, а $\tau_2$ – легированным Fe-нанокристаллитам пленки VO$_2$. Показано, что физический механизм процесса релаксации обусловлен установлением равновесия в системе электронов проводимости после воздействия электрического поля на пленку VO$_2$. Определены численные значения параметров распределения релаксаторов по временам релаксации.

Ключевые слова: диэлектрические измерения, корреляционные эффекты, диоксид ванадия, VO$_2$, фазовый переход изолятор-металл.

Поступила в редакцию: 06.07.2022
Исправленный вариант: 20.07.2022
Принята в печать: 20.07.2022

DOI: 10.21883/OS.2022.10.53618.3902-22

Реферативные базы данных:

•