Аннотация:
Исследована резонансная поглощающая способность одномерного фотонного кристалла, взаимосвязь резонансной частоты и ширины полосы поглощения с составом и толщиной формирующих его слоев. Изучены частотные осцилляции отражения излучения от 2.5-слойных пленочных структур полуметалл-диэлектрик-металл, обусловленные интерференцией на толщине пленки. Измерены инфракрасные спектры отражения образцов пленок из Bi$_{87}$Sb$_{13}$ на зеркально полированных подложках с отражающим слоем металла (Al, Ti) и слоем диэлектрика (MgF$_2$+LiF или SiO$_2$+ Si$_3$N$_4$). Разработаны образцы, поглощающие в максимуме до 99.5% излучения и интегрально до 60% резонансного теплового излучения. Оптимизирован состав структур для сопряжения с кремниевыми технологиями и построения матриц чувствительных болометрических приемников. Предложена реализация систем активного избирательного тепловидения с согласованием источника и приемника излучения одновременно по частоте и по частотной полосе. Показана аналогия поглощающих свойств пленочных структур и свойств клеток человеческого глаза.
Полный текст:
PDF файл (336 kB)