Спектроскопия конденсированного состояния

Исследование плазмонного резонанса в Bi$_2$Se$_3$ и Sb$_2$Te$_3$ методом инфракрасной спектральной эллипсометрии

Э. Г. Ализаде

Институт физики НАН Азербайджана, AZ1141 Баку, Азербайджан

Аннотация: В инфракрасной (ИК) области спектра методом ИК спектральной эллипсометрии (СЭ) исследованы оптические свойства монокристаллических образцов узкозонных вырожденных полупроводников Bi$_2$Se$_3$ и Sb$_2$Te$_3$. Изучены транспортные свойства из друде-подгонки диэлектрических функций, полученных с помощью спектроскопической эллипсометрии. Детально исследовано поведение объемного и поверхностного плазмон-поляритонов. Рассчитаны дисперсия и длина свободного пробега плазмона, глубина скин-слоя для проводящей (исследуемые материалы) и диэлектрической поверхности (воздух). Оценен вклад плазмона в оптические свойства из спектральной плотности для образцов Bi$_2$Se$_3$ и Sb$_2$Te$_3$.

Ключевые слова: эллипсометрия, плазмон, плазмоника, дисперсия плазмона, длина свободного пробега плазмона, глубина проникновения плазмона.

Поступила в редакцию: 29.07.2021
Исправленный вариант: 30.09.2021
Принята в печать: 06.10.2021

DOI: 10.21883/OS.2022.02.51991.2599-21

Реферативные базы данных:

•