Голография

Влияние интерференции в тонких пленках на оптические характеристики голограмм, зарегистрированных на слоях As–Se

Н. М. Ганжерли

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Проведена оценка влияния интерференции в тонких пленках на оптические характеристики голограмм, зарегистрированных на слоях халькогенидного стеклообразного полупроводника системы As–Se. Измерены изменения величины отражения, пропускания и оптической разности хода лучей в процессе воздействия актиничного излучения He–Ne-лазера на слои. Показано, что интерференционные явления в тонких пленках приводят к колебаниям этих характеристик, а также к колебанию дифракционной эффективности голограмм при изменении толщины слоя.

Ключевые слова: интерференция в тонких пленках, халькогенидные стеклообразные полупроводники, показатель преломления, отражение, пропускание, оптическая разность хода лучей, дифракционная эффективность голограмм.

Поступила в редакцию: 14.04.2023
Исправленный вариант: 14.04.2023
Принята в печать: 08.05.2023

DOI: 10.61011/OS.2023.08.56299.4859-23

Реферативные базы данных:

•