RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Оптика и спектроскопия // Архив

Оптика и спектроскопия, 2023, том 131, выпуск 8, страницы 1058–1064 (Mi os1416)

Спектроскопия конденсированного состояния

Особенности локализации радиационных дефектов и электронных возбуждений в поле легких примесных ионов натрия в монокристаллах хлорида калия

К. Ш. Шункеевa, A. С. Тилепa, Ш. Ж. Сагимбаеваa, Ж. К. Убаевa, А. Ч. Лущикb

a Актюбинский региональный государственный университет имени К. Жубанова, 030000 Актобе,Казахстан
b Институт физики Тартускoго университета, 50411 Тарту, Эстония

Аннотация: Методами абсорбционной и люминесцентной спектроскопии впервые проанализирована стабильность монокристаллов KCl, допированных примесными ионами натрия. Индикатором детектирования центрального положения иона натрия в катионном узле решетки монокристалла KCl–Na служат полосы наведенного рентгеновской радиацией оптического поглощения с максимумами при 6.35 и 3.5 eV (соответственно междоузельные ионы и атомы хлора, локализованные около примесных ионов Na$^+$), а также характерная люминесценция при 2.8 и 3.1 eV экситоноподобных образований, рекомбинационно создаваемых около одиночных Na$^+$ или парных Na$^+$–Na$^+$ примесных ионов соответственно. Показано, что в длительно хранившихся при комнатной температуре кристаллах KCl : Na ионы Na$^+$ покидают регулярные катионные узлы и образуют наноразмерные скопления. Однако последующая закалка “распавшегося” кристалла при высоких температурах (400–700$^\circ$C) приводит к частичной обратной встройке ионов натрия в катионные узлы решетки KCl : Na. С повышением температуры закалки степень восстановления растет и достигает насыщения (80% от характеристик свежевыращенных кристаллов).

Ключевые слова: монокристалл KCl : Na, распад KCl : Na–выпадение иона натрия, закалка–восстановление решетки KCl : Na, Х-облучение, околонатриевые радиационные дефекты и люминесценция.

Поступила в редакцию: 09.03.2023
Исправленный вариант: 22.05.2023
Принята в печать: 10.07.2023

DOI: 10.61011/OS.2023.08.56296.4684-23



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026