Спектроскопия конденсированного состояния

Резонанс фонона тонкой пленки с поверхностным поляритоном подложки

В. А. Яковлев, Н. Н. Новикова, С. А. Климин

Институт спектроскопии РАН, г. Троицк, Москва

Аннотация: В слоистых структурах оптические эффекты, как правило, линейны по толщине пленки (при малых толщинах). Поэтому теоретически предсказанная В.М. Аграновичем корневая зависимость расщепления поверхностного поляритона (ПП) от толщины уникальна. В настоящей работе продемонстрированo расщепление кривой дисперсии ПП сапфира после нанесения на его поверхность пленки оксида магния. Величина этого расщепления прямо пропорциональна квадратному корню из толщины переходного слоя, как было предсказано теорией. Проведен обзор других экспериментов, подтверждающих теоретические выводы.

Ключевые слова: поверхностные поляритоны, спектроскопия НПВО, тонкие пленки, дисперсионный анализ, кривые дисперсии, оксид магния, сапфир.

Поступила в редакцию: 07.06.2024
Исправленный вариант: 07.06.2024
Принята в печать: 29.07.2024

DOI: 10.61011/OS.2024.08.59023.6792-24

Реферативные базы данных:

•