RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Оптика и спектроскопия // Архив

Оптика и спектроскопия, 2024, том 132, выпуск 1, страницы 13–20 (Mi os1130)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Конференция ''Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023)'' 2-4 октября 2023 г., Физический институт имени П.Н. Лебедева РАН
Спектроскопия конденсированного состояния

Анализ спектров комбинационного рассеяния света при возбуждении на длинах волн 532 и 785 nm для экспресс-диагностики опухолей кожи

И. Н. Сараеваa, Е. Н. Римскаяa, А. В. Горевойa, А. Б. Тимурзиеваab, С. Н. Шелыгинаa, Е. В. Переведенцеваa, С. И. Кудряшовa

a Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, 119991 Москва, Россия
b Федеральное государственное бюджетное научное учреждение «Национальный научно-исследовательский институт общественного здоровья имени Н.А. Семашко», 105064 Москва, Россия

Аннотация: Микроспектроскопия комбинационного рассеяния света является важным методом диагностики рака кожи на ранних стадиях. Проведена дифференциация злокачественных новообразований кожи (базальноклеточные карциномы кожи, плоскоклеточные карциномы), доброкачественных новообразований кожи (папилломы) и здоровой кожи путем получения спектров комбинационного рассеяния in vitro при возбуждении на длинах волн 532 и 785 nm и их анализа с помощью метода главных компонентов. Выполнено сопоставление спектральных признаков компонентов с известными пиками молекулярных колебаний; показано, что дифференциальная диагностика при длине волны возбуждения 785 nm является более надежной, чем при 532 nm, обеспечивая вероятность правильной классификации выше 90%. Предложенные методы могут быть применены для in vivo анализа при неинвазивной экспресс-диагностике с использованием соответствующего оборудования для получения спектров.

Ключевые слова: опухоли кожи, конфокальная сканирующая микроспектроскопия комбинационного рассеяния света, метод анализа главных компонент.

Поступила в редакцию: 11.12.2023
Исправленный вариант: 09.01.2024
Принята в печать: 16.01.2024

DOI: 10.61011/OS.2024.01.57543.9-24



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026