Аппаратное обеспечение вычислительных, телекоммуникационных и управляющих систем

О надежности компонентов электронных приборов при электрическом пробое структур металл-полимер-металл

Н. Т. Сударь^a, Н. Л. Егорычев^a, В. А. Закревский^b, В. А. Пахотин<sup>b

a</sup> Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
^b Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Изучен электрический пробой структур типа металл-полимер-металл, различающихся природой и толщиной полимерных пленок. Исследованы структуры с пленками полиметилметакрилата, полистирола и поликарбоната. Установлено, что длительность токовых импульсов при пробое полимерной пленки не превышает 500 нс. Природа полимерного диэлектрика не влияет на форму и параметры регистрируемых при пробое импульсов тока. Определяющее значение имеет толщина пленки. В пленках толщиной более 0,5 мкм при пробое возникают кратковременные электрические перенапряжения в несколько раз превосходящие величину напряжения пробоя.

Ключевые слова: полимеры, электрический пробой, пленки, конденсаторы.

УДК: 621.315.6

DOI: 10.5862/JCSTCS.241.4