Аннотация:
В работе приведено описание методики получения и алгоритма обработки интерферометрических данных, позволяющих получать зависимости толщины резистной пленки и скорости ее растворения от времени в процессе проявления. Значение толщины пленки контролируется с точностью $\pm0,01$ мкм в случае отсутствия набухания резиста.