Оптика, квантовая электроника

Исследование наведенного поглощения голографическим методом

А. В. Князьков

Санкт-Петербургский государственный университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Описан голографический метод исследования наведенного поглощения в пропускающих средах в схеме с дополнительной фазовой измерительной решеткой. Проведен матричный анализ и получены аналитические выражения для расчета наведенного поглощения из асимметрии изменений интенсивностей прошедших пучков. Проведены сравнительные измерения динамики наведенного поглощения в фотохромном стекле традиционным однопучковым дифракционным методом и новым двухпучковым интерференционным методом. Проанализировано влияние остаточной решетки поглощения измерительной фазовой решетки на ход динамики наведенного поглощения. Показано хорошее согласие результатов измерений.

Поступила в редакцию: 30.09.2009
Принята в печать: 26.05.2010

 Англоязычная версия: Technical Physics, 2010, 55:12, 1776–1780

Реферативные базы данных:

•