И. В. Антонец, Л. Н. Котов, П. А. Макаров, Е. А. Голубев, “Наноструктура, проводящие и отражающие свойства тонких пленок железа и (Fe)$_X$(BaF$_2$)$_Y$”, ЖТФ, 2010, том 80, выпуск 9,страницы 134

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Поверхность, электронная и ионная эмиссия

Наноструктура, проводящие и отражающие свойства тонких пленок железа и (Fe)$_X$(BaF$_2$)$_Y$

И. В. Антонец^a, Л. Н. Котов^a, П. А. Макаров^a, Е. А. Голубев^b

^a Сыктывкарский государственный университет, 167001 Сыктывкар, Россия
^b Институт геологии Коми НЦ УрО РАН, 167001 Сыктывкар, Россия

Аннотация: Методом вакуумного осаждения на полимерной подложке выращены пленки Fe и (Fe)$_X$(BaF$_2$)$_Y$ толщиной 10–160 nm. Исследованы поверхностный рельеф и наноструктура пленок. Получена зависимость удельной проводимости от толщины пленки, и выявлена связь поведения проводимости с особенностями рельефа поверхности. Проанализировано влияние диэлектрической фазы BaF$_2$ на проводящие и отражающие свойства пленок Fe. Показано, что диэлектрический слой BaF$_2$ частично замедляет процесс окисления и сохраняет отражающую способность пленок Fe по сравнению с чистыми пленками железа, выдержанными на воздухе.

Поступила в редакцию: 23.04.2009
Принята в печать: 19.11.2009