В. В. Мельников, С. В. Еремеев, С. Е. Кулькова, “Изучение адгезии пленок ниобия на разно-ориентированных поверхностях $\alpha$-Al$_2$O$_3$”, ЖТФ, 2011, том 81, выпуск 10,страницы 114

Эта публикация цитируется в 6 статьях

Поверхность, электронная и ионная эмиссия

Изучение адгезии пленок ниобия на разно-ориентированных поверхностях $\alpha$-Al$_2$O$_3$

В. В. Мельников^ab, С. В. Еремеев^ab, С. Е. Кулькова^ab

^a Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, 634021 Томск, Россия
^b Томский государственный университет, 634050 Томск, Россия

Аннотация: По методу функционала электронной плотности изучена атомная и электронная структура границ раздела Nb/$\alpha$-Al$_2$O$_3$. Обсуждены структурные и электронные свойства трех поверхностей корунда, а также химическая связь металлических пленок ниобия на разно-ориентированных границах раздела. Установлены особенности электронной структуры для различных поверхностей $\alpha$-Al$_2$O$_3$ и их интерфейсов с ниобием. Проведен анализ взаимосвязи между электронными, геометрическими факторами и механическими свойствами изученных границ раздела. Показано, что адгезия пленок ниобия в значительной степени зависит от типа поверхности оксида.

Поступила в редакцию: 04.03.2011