Эта публикация цитируется в 10 статьях

Приборы и методы эксперимента

Размеры областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения в тонких пленках SmS и их визуализация

Н. В. Шаренкова, В. В. Каминский, С. Н. Петров

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: На тонкой поликристаллической пленке SmS из рентгеновских дифрактограмм ($\theta-2\theta$-сканирование, ДРОН-2, Cu $K_\alpha$-излучение) по формуле Селякова–Шеррера с учетом влияния микронапряжений определен характерный размер областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения (250 $\pm$ 20 $\mathring{\mathrm{A}}$). С помощью электронного микроскопа получено изображение поверхности этой же пленки, на котором четко видны области с характерными размерами 240 $\mathring{\mathrm{A}}$. Сделан вывод, что визуально наблюдаются области когерентного рассеяния рентгеновского излучения.

Поступила в редакцию: 16.12.2010
Принята в печать: 18.02.2011

 Англоязычная версия: Technical Physics, 2011, 56:9, 1363–1365

Реферативные базы данных:

•