RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2011, том 81, выпуск 9, страницы 82–88 (Mi jtf9236)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Оптика, квантовая электроника

Исследование влияния мелкомасштабных неоднородностей на электрофизические характеристики тонкого слоя методом внутрирезонаторной лазерной спектроскопии

К. Г. Куликов

Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 197046 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Построена математическая модель, которая позволяет варьировать характерные размеры шероховатости, электрофизические параметры исследуемого биологического образца, геометрические характеристики и устанавливать зависимости между ними и биологическими свойствами моделируемой биоткани, а также делает возможным теоретически рассчитывать спектры поглощения оптически тонких биологических образцов, помещенных в полость оптического резонатора.

Поступила в редакцию: 24.01.2011


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2011, 56:9, 1302–1309

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026