Оптика, квантовая электроника

Установка для измерения спектров излучения широкозонных полупроводниковых материалов

Ю. В. Тубольцев, М. М. Мездрогина, Е. М. Хилькевич, Ю. В. Чичагов, Н. К. Полетаев, Р. В. Кузьмин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Разработана установка для измерения спектров излучения широкозонных полупроводниковых соединений III-нитридов и гетероструктур на их основе. Созданная система позволяет измерять временные распределения интенсивности люминесценции исследуемых структур и материалов на фиксированной длине волны с разрешением $\pm$ 5 ns с частотой регистрации событий до 10 MHz во временном диапазоне от единиц до сотен микросекунд, а также осуществлять построение зависимости интегральной интенсивности люминесценции от длины волны. Имеется режим прецизионных измерений.

Поступила в редакцию: 02.11.2010

 Англоязычная версия: Technical Physics, 2011, 56:9, 1297–1301

Реферативные базы данных:

•