Эта публикация цитируется в
6 статьях
Оптика, квантовая электроника
Электролюминесцентные характеристики светодиодов среднего ИК-диапазона на основе гетероструктур InGaAsSb/GaAlAsSb при высоких рабочих температурах
А. А. Петухов,
Б. Е. Журтанов,
С. С. Молчанов,
Н. Д. Стоянов,
Ю. П. Яковлев Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Приведены результаты исследования электролюминесцентных характеристик светодиода на основе гетероструктуры InGaAsSb/GaAlAsSb, излучающей в области 1.85
$\mu$m, при температуре 20–200
$^\circ$C. Из результатов исследования следует, что с увеличением температуры мощность излучения экспоненциально уменьшается по закону
$P\cong$ 0.4
$\exp$(2.05
$\cdot$ 10
$^3$ T). Показано, что, уменьшение мощности излучения обусловлено главным образом ростом скорости Оже-рекомбинации. Установлено, что помимо излучательной рекомбинации зона-зона происходит рекомбинация через акцепторные уровни, приводящая к уширению спектра излучения. С ростом температуры энергия активации акцепторных уровней уменьшается по закону
$\Delta E\cong$ 32.9–0.075 T, а также происходит смещение максимума спектра излучения светодиода в длинноволновую область (
$h\nu_{\mathrm{max}}$ = 0.693–4.497
$\cdot$ 10
$^{-4}$ T). При анализе экспериментальных результатов исходя из зависимости
$E_g=h\nu_{\mathrm{max}}-1/2 kT$ получено выражение для изменения ширины запрещенной зоны активной области состава Ga
$_{0.945}$In
$_{0.055}$AsSb с температурой
$E_g\cong$ 0.817–4.951
$\cdot$ 10
$^{-4}$ T при 290 K
$<T<$ 495 K. Показано, что сопротивление гетероструктуры с ростом температуры экспоненциально уменьшается по закону
$R_0\cong$ 5.52
$\cdot$ 10
$^{-2} \exp$ (0.672/2
$kT$). В то же время напряжение отсечки
$U_{\mathrm{cut}}$, характеризующее высоту потенциального барьера
$p$–
$n$-перехода, с увеличением температуры уменьшается линейно (
$U_{\mathrm{cut}}$ = -1.59 T+534). Установлено, что протекание тока через структуру обусловлено генерационно-рекомбинационным механизмом во всем исследованном интервале температур.