Ф. Ю. Соломкин, Е. И. Суворова, В. К. Зайцев, С. В. Новиков, А. Т. Бурков, А. Ю. Самунин, Г. Н. Исаченко, “Влияние термообработки на структуру и термоэлектрические свойства CrSi$_2$”, ЖТФ, 2011, том 81, выпуск 2,страницы 147

Эта публикация цитируется в 12 статьях

Краткие сообщения

Влияние термообработки на структуру и термоэлектрические свойства CrSi$_2$

Ф. Ю. Соломкин^a, Е. И. Суворова^b, В. К. Зайцев^a, С. В. Новиков^a, А. Т. Бурков^a, А. Ю. Самунин^a, Г. Н. Исаченко^a

^a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
^b Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, 119333 Москва, Россия

Аннотация: Исследованы текстурированные образцы CrSi$_2$, полученные нагреванием мелкодисперсных исходных компонентов (Cr и Si). Использование смеси порошков (Cr и Si) позволило снизить температуру начала синтеза CrSi$_2$ на 100 K. Обнаружено влияние условий кристаллизации и последующего отжига на термоэлектрические свойства и стехиометрический состав образцов.

Поступила в редакцию: 25.05.2010