Эта публикация цитируется в 1 статье

Приборы и методы эксперимента

Способы оценки толщины осадков на поверхности охлаждаемых оптических элементов в вакуумных условиях с источниками загрязнения

Е. В. Калашников, С. Н. Калашникова

Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем, г. Сосновый Бор, Ленинградская обл.

Аннотация: Описан простой способ оценки загрязнения (толщины и скорости роста слоя осадков) поверхностей элементов оптической системы, используемой в вакуумных условиях. Приведены экспериментальные результаты физического моделирования загрязнения бортовой оптики космического аппарата на орбите в условиях наличия собственной внешней атмосферы и сделано сравнение экспериментальных результатов с расчетными значениями. Результаты работы могут быть использованы при криостатировании оптических элементов в остаточной атмосфере вакуумной камеры.

Поступила в редакцию: 27.12.2011

 Англоязычная версия: Technical Physics, 2012, 57:11, 1574–1578

Реферативные базы данных:

•