Эта публикация цитируется в 1 статье

Поверхность, электронная и ионная эмиссия

Ван-дер-Ваальсова поверхность InSe как возможный стандарт нанорельефа в метрологии нанообъектов

А. И. Дмитриев

Институт проблем материаловедения им. И. Н. Францевича НАН Украины, Киев, Украина

Аннотация: Интенсивное развитие нанотехнологии требует создания системы метрологического обеспечения измерений в первую очередь эталона длины в нанометровом диапазоне, что включает создание и использование стандартов нанорельефа поверхности. Одним из типов стандартов является периодическое расположение атомов в кристаллической решетке монокристалла. С этой целью удобно использовать сколы слоистых кристаллов. Скол слоистого полупроводника InSe представляет собой Ван-дер-Ваальсову поверхность. Она имеет высокую химическую стабильность, низкую шероховатость поверхности, легко формируется скалыванием, имеет протяженные атомарно-гладкие участки высоко упорядоченной ромбоэдрической решетки с периодом элементарной ячейки $a$ = 0.4003 nm и может быть использована, аналогично высокоориентированному пиролитическому графиту, в качестве стандарта нанорельефа.

Поступила в редакцию: 26.07.2011
Принята в печать: 29.11.2011

 Англоязычная версия: Technical Physics, 2012, 57:8, 1157–1161

Реферативные базы данных:

•