Е. Х. Бакшт, С. Я. Беломытцев, А. Г. Бураченко, В. В. Рыжов, В. Ф. Тарасенко, В. А. Шкляев, “Экспериментальное и численное исследования двух механизмов формирования пучков убегающих электронов”, ЖТФ, 2012, том 82, выпуск 7,страницы 102

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Электронные и ионные пучки, ускорители

Экспериментальное и численное исследования двух механизмов формирования пучков убегающих электронов

Е. Х. Бакшт^a, С. Я. Беломытцев^a, А. Г. Бураченко^a, В. В. Рыжов^ab, В. Ф. Тарасенко^a, В. А. Шкляев^ab

^a Институт сильноточной электроники СО РАН, 634055 Томск, Россия
^b Национальный исследовательский Томский политехнический университет, 634055 Томск, Россия

Аннотация: Исследуются режимы развития электрического пробоя газонаполненного диода с сильно неоднородным электрическим полем, когда в течение одного импульса напряжения амплитудой 25 kV за анодной фольгой регистрируются пучки убегающих электронов с двумя разделенными во времени максимумами, имеющих разную длительность. Проведены анализ экспериментальных результатов и численное моделирование с использованием PIC/MC-кода OOPIC-Pro. Показано, что в рамках используемой модели оба пучка формируются вблизи катода, однако их механизмы отличаются. За формирование первого пучка убегающих электронов, имеющего длительность не более 500 ps, отвечает ионизационный механизм, за формирование второго, длительность которого может достигать нескольких наносекунд, – эмиссионный.

Поступила в редакцию: 05.08.2011