В. Б. Широков, Ю. И. Головко, В. М. Мухортов, “Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba$_{0.8}$Sr$_{0.2}$TiO$_3$”, ЖТФ, 2012, том 82, выпуск 7,страницы 79

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Оптика, квантовая электроника

Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba$_{0.8}$Sr$_{0.2}$TiO$_3$

В. Б. Широков^ab, Ю. И. Головко^a, В. М. Мухортов^a

^a Южный научный центр РАН, 344006 Ростов-на-Дону, Россия
^b Южный федеральный университет, 344090 Ростов-на-Дону, Россия

Аннотация: Исследованы свойства наноразмерных пленок (Ba$_{0.8}$Sr$_{0.2}$)TiO$_3$ на монокристаллических подложках окиси магния. Пленки изготовлены по методу высокочастотного распыления при осаждении по слоевому механизму роста. Измерения параметров решетки выполнены с помощью методов рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 190–1100 nm. При анализе экспериментальных оптических характеристик для определения коэффициента преломления и поглощения в дисперсионной формуле использованы дополнительные, релаксационные слагаемые, отражающие конечное время жизни осциллятора, что позволило более точно провести аппроксимацию экспериментальных данных.

Поступила в редакцию: 27.06.2011