Аннотация:
Представлены результаты новых исследований по созданию защитных оксидных покрытий на основе Al$_2$O$_3$ (Si, Mn) на сплавах алюминия с помощью электролитно-плазменного оксидирования. Анализ проводился с помощью растровой электронной микроскопии SEM с EDS (энергодисперсным микроанализом), а также рентгенофазового анализа (XRD), Резерфордовского обратного рассеяния ионов (RBS) $^4$He$^+$ и протонов, применения наноиндентора и тестов на износ, определения коэффициента трения и акустической эмиссии. Результаты показали, что формируются покрытия хорошего качества с высокой твердостью и стойкостью к износу, а также малой температуропроводностью. Обнаружено, что наряду с Al$_2$O$_3$ в покрытии находятся Si, Mn, C и Ca. Определена стехиометрия данного покрытия. Плотность и твердость покрытия близка по значениям к таковым у $\alpha$-фазы Al$_2$O$_3$ в покрытии на подложке Al–Cu (D-16), а на покрытии, осажденном на подложке Al–Mg (S006), эти величины в 1.5 раза меньше.
Поступила в редакцию: 21.04.2011 Принята в печать: 05.08.2011