Аннотация:
Представлены результаты исследования мемристивных свойств структуры Cu/(Co$_{40}$Fe$_{40}$B$_{20}$)$_x$(SiO$_2$)$_{100-x}$/LiNbO$_3$/Cr/Cu/Cr/ситалл. Показано, что использование нанокомпозита (Co$_{40}$Fe$_{40}$B$_{20}$)$_x$(SiO$_2$)$_{100-x}$ позволяет реализовать комплекс практически значимых мемристивных свойств. Так, напряжение переключения из закрытого в открытое состояние конденсаторной структуры и обратно составляет $\pm$ 4 V, отношение $R_{\mathrm{off}}/R_{\mathrm{on}}$ достигает сотни единиц, число циклов обратимого резистивного переключения составляет более 10$^4$, реализуется пластичность резистивных состояний. Подтверждено, что для реализации многофиламентного резистивного переключения в диэлектрической прослойке необходимо присутствие нанокомпозита с концентрацией металлической фазы до наступления порога перколяции между верхним и нижним электродом. При этом основную роль играет структура нанокомпозита, а элементный состав гетерогенной пленки не столь существенен для реализации комплекса технологически значимых свойств мемристора.